メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト

• 資料種別: 記事
• タイトル: メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト
• 著者・編者: 風間 佳之; 作道 直樹; 段 慧 他
• シリーズタイトル: コンピュータシステム 組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013
• 著者標目: 風間 佳之; 作道 直樹; 段 慧
• 並列タイトル等: Memory Protection Test for Memory-Protected RTOS
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 112(481):2013.3.13・14
• 掲載巻: 112
• 掲載号: 481
• 掲載ページ: 7-12
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2013-03
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: Vol.2013-SLDM-160No.2
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024407158; http://id.ndl.go.jp/bib/024407158
• 整理区分コード: 632