二重収束型ICP質量分析計によるナノ粒子の高感度分析 (特集 無機質量分析計の最前線)

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二重収束型ICP質量分析計によるナノ粒子の高感度分析(特集 無機質量分析計の最前線)

国立国会図書館請求記号
Z17-213
国立国会図書館書誌ID
030023119
資料種別
記事
著者
山下 修司ほか
出版者
東京 : 日本質量分析学会
出版年
2019-10
資料形態
掲載誌名
Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan = 質量分析 67(5)=317:2019.10
掲載ページ
p.142-146
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
山下 修司
鈴木 敏弘
平田 岳史
並列タイトル等
High Sensitivity Analysis of Nanoparticles Using Double-Focusing Sector Field ICP-Mass Spectrometry
タイトル(掲載誌)
Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan = 質量分析
巻号年月日等(掲載誌)
67(5)=317:2019.10
掲載巻
67
掲載号
5