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半導体テスト・システ...

半導体テスト・システムにおける薄型間接水冷コールド・プレートの開発 (特集 地方発次世代半導体産業)

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半導体テスト・システムにおける薄型間接水冷コールド・プレートの開発(特集 地方発次世代半導体産業)

国立国会図書館請求記号
Z16-466
国立国会図書館書誌ID
034319528
資料種別
記事
著者
與田 泰史ほか
出版者
東京 : 精密工学会
出版年
2025-08
資料形態
掲載誌名
精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering / 会誌編集委員会 編 91(8)=1088:2025.8
掲載ページ
p.823-827
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
與田 泰史
安野 秀彦
菅井 勝士
土井 敦之
並列タイトル等
Low-Profile Water-Cooled Cold Plate for Semiconductor Test System
タイトル(掲載誌)
精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering / 会誌編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
91(8)=1088:2025.8
掲載巻
91
掲載号
8