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高精度テラヘルツ時間...

高精度テラヘルツ時間分解エリプソメトリによるワイドバンドギャップ半導体の伝導特性評価 (特集 次世代通信システム関連材料と技術)

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高精度テラヘルツ時間分解エリプソメトリによるワイドバンドギャップ半導体の伝導特性評価

(特集 次世代通信システム関連材料と技術)

国立国会図書館請求記号
Z14-909
国立国会図書館書誌ID
034348225
資料種別
記事
著者
中嶋 誠ほか
出版者
東京 : シーエムシー出版
出版年
2024-12
資料形態
掲載誌名
機能材料 44(12)=520:2024.12
掲載ページ
p.31-38
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
中嶋 誠
趙 梓茜
Verdad C. Agulto
加藤 康作
岩本 敏志
並列タイトル等
High-Precision Terahertz Time Domain Ellipsometry for Evaluation of Conduction Properties in Wide Bandgap Semiconductors
タイトル(掲載誌)
機能材料
巻号年月日等(掲載誌)
44(12)=520:2024.12
掲載巻
44
掲載号
12