電子デバイス用材料の微小領域分析・計測--極限への挑戦<特集>

• 資料種別: 記事
• タイトル: 電子デバイス用材料の微小領域分析・計測--極限への挑戦<特集>
• タイトル（掲載誌）: まてりあ = Materia Japan
• 巻号年月日等（掲載誌）: 34(7) 1995.07
• 掲載巻: 34
• 掲載号: 7
• 掲載ページ: p825～904
• 掲載年月日（W3CDTF）: 1995-07
• ISSN（掲載誌）: 1340-2625
• ISSN-L（掲載誌）: 1340-2625
• 出版事項（掲載誌）: 仙台 : 日本金属学会 ; 1994-
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZP41
• 対象利用者: 一般
• 記事種別、記事分類: 記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-313
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 3626717; http://id.ndl.go.jp/bib/3626717
• 整理区分コード: 632

• 要約等: 記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子（提供元: CiNii Research）