CVケーブルの絶縁特性に与える弱点および水分の影響 (最近の電力ケーブル技術<特集>)
デジタルデータあり（科学技術振興機構）
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 勝田 銀造 他
- シリーズタイトル
- 著者標目
- タイトル（掲載誌）
- 電気学会論文誌. B, 電力・エネルギー部門誌 = IEEJ transactions on power and energy
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 112(10) 1992.10
- 掲載巻
- 112
- 掲載号
- 10
- 掲載ページ
- p853～862
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 1992-10
- ISSN（掲載誌）
- 0385-4213
- ISSN-L（掲載誌）
- 0385-4213
- 出版事項（掲載誌）
- 東京 : 電気学会
- 出版地（国名コード）
- JP
- 本文の言語コード
- jpn
- NDLC
- 対象利用者
- 一般
- 所蔵機関
- 国立国会図書館
- 請求記号
- Z16-794
- 連携機関・データベース
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
- 書誌ID（NDLBibID）
- 3795435
- 整理区分コード
- 632
- 要約等
- Sample cables including a few types of defects (such as voids, contaminants, and protrusions) with more volume than usual, were prepared intentionally for clarifying how these defects separately affect insulation characteristics, under the presence/non-presence of moisture. In the case of void inclusion, insulation characteristics is even more susceptible to AC voltage than impulse voltage, and the distribution of lifetimes is classified into a worn-out failure type due to discharge deterioration. While protrusions and some other contaminants can greatly deteriorate original dielectric strength, these defects have a relatively slight effect on long-term endurance in the atmosphere. Therefore, the distribution of lifetimes is classified into an early failure type. With refernce to influence of moisture, in strong electric field (exceeding 15kV/mm) and in a region of short-term, there is an increase in harmfulness around defects with water absorbed, thereby inducing electrical trees and resulting in a breakdown. In light electric field (no more than 15kV/mm) and in a region of a long-term, harmfulness of defects will not deepen to a considerable extent, and growth of water trees is influential very possibly.
- DOI
- 10.1541/ieejpes1990.112.10_853
- オンライン閲覧公開範囲
- インターネット公開
- 連携機関・データベース
- 科学技術振興機構 : J-STAGE
- 要約等
- Sample cables including a few types of defects (such as voids, contaminants, and protrusions) with more volume than usual, were prepared intentionally for clarifying how these defects separately affect insulation characteristics, under the presence/non-presence of moisture. In the case of void inclusion, insulation characteristics is even more susceptible to AC voltage than impulse voltage, and the distribution of lifetimes is classified into a worn-out failure type due to discharge deterioration. While protrusions and some other contaminants can greatly deteriorate original dielectric strength, these defects have a relatively slight effect on long-term endurance in the atmosphere. Therefore, the distribution of lifetimes is classified into an early failure type. With refernce to influence of moisture, in strong electric field (exceeding 15kV/mm) and in a region of short-term, there is an increase in harmfulness around defects with water absorbed, thereby inducing electrical trees and resulting in a breakdown. In light electric field (no more than 15kV/mm) and in a region of a long-term, harmfulness of defects will not deepen to a considerable extent, and growth of water trees is influential very possibly.
- DOI
- 10.1541/ieejpes1990.112.10_853
- オンライン閲覧公開範囲
- インターネット公開
- 関連情報（URI）
- 参照
- XLPEケーブルの破壊要因の検討ボウ・タイ状水トリーからの電気トリー発生メカニズムの検討
- 連携機関・データベース
- 国立情報学研究所 : CiNii Research
- 提供元機関・データベース
- Japan Link Center雑誌記事索引データベースCrossrefCiNii ArticlesCrossrefCrossref
- 書誌ID（NDLBibID）
- 3795435
- NII論文ID
- 130006841243