並列タイトル等Three Dimensional Element Analysis by Using Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy
タイトル(掲載誌)平成24(2012)年度 科学研究費補助金 若手研究(B) 研究成果報告書 = 2012 Fiscal Year Final Research Report
一般注記本研究では,高精度の非弾性電子トンネル分光(Inelastic electron tunneling spectroscopy : IETS)を計測し,その分析法としての有用性を示すために,走査トンネル顕微鏡(Scanning tunneling Microscope : STM)の改良および測定系の構築を行った.その結果(1)STM-IETSの計測にとって理想的な欠陥の少ない広いテラスをもったアルカンチオール自己組織化単分子膜(Self-assembled monolayer: SAM)が作製できるようになり(2)このSAMに対して,微分コンダクタンスの二次元像を安定して計測できるようになった.装置改良と並行して,これまで計測してきたIETSの実験結果,新しく取得した赤外分光のデータ,密度汎関数法による理論的研究をもとに,新しい視点から非弾性トンネル分光に関する研究をまとめProgress in Surface Science において報告した.表面上の分子に対する非弾性電子トンネル過程の研究と関連して,ナノデバイス系においても非弾性電子トンネル過程が発現し,伝導コンダクタンスに影響を与える事を見出した.
In the present study, in order to measure STM-IETS with high precision and demonstrate its availability as a characterization method, an STM and its measurement system havebeen modified. Owing to this modification(1) alkanethiol SAM surfaces with large terrace and defect free suitable for IETS were fabricated and(2) dI/dV mapping for alkanethiolSAM surfaces on Au(111) surfaces were repeatedly obtained.Along with the modification of the experimental setup, IET processes for alkanethiol SAM have been reviewed and reported in Progress in Surface Science with new view point, based on the so far obtained IETS data, newly acquired Infrared spectroscopy, theory with density functional theory.Appearance of the IET process in the electron transport through a nanodevice and its influence on the conductions were also found.
研究課題/領域番号:23710113, 研究期間(年度):2011-2012
出典:研究課題「非弾性電子トンネル分光による三次元元素イメージング」課題番号23710113(KAKEN:科学研究費助成事業データベース(国立情報学研究所))(https://kaken.nii.ac.jp/report/KAKENHI-PROJECT-23710113/23710113seika/)を加工して作成
一次資料へのリンクURLhttps://kanazawa-u.repo.nii.ac.jp/?action=repository_action_common_download&item_id=45922&item_no=1&attribute_id=26&file_no=1
関連情報https://kaken.nii.ac.jp/search/?qm=90387853
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23710113/
https://kaken.nii.ac.jp/report/KAKENHI-PROJECT-23710113/23710113seika/
連携機関・データベース国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)