島津評論50(4)(175)

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 島津評論
• タイトルよみ: シマズ ヒョウロン
• 巻次・部編番号: 50(4)(175)
• 著者・編者: 島津評論編集部 [編]
• 著者標目: 島津製作所 シマズ セイサクジョ
• 出版事項: 京都 : 島津評論編集部; 東京 : オーム社 (発売)
• 出版年月日等: 1994-03
• 出版年（W3CDTF）: 1994-03
• 刊行巻次・年月次: 1巻1号(昭和15年11月)-
• 大きさ: 30cm
• 並列タイトル等: Shimadzu review Shimadzu review
• ISSN（掲載誌）: 0371-005X
• ISSN-L（掲載誌）: 0371-005X
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN11
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による
• DOI: 10.11501/3292537; https://doi.org/10.11501/3292537
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/3292537; https://dl.ndl.go.jp/pid/3292537
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2011-03-31
• 受理日（W3CDTF）: 2012-01-27T18:20:27+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: 1巻1号(昭和15年11月)- (欠: 2巻1号,4巻5号)
• 請求記号: Z16-472
• 原資料（JPNO）: 00010461
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/3381181; https://dl.ndl.go.jp/pid/3381181
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

表面分析<特集>

高エネルギ-イオンビ-ム分析装置IBA-9900

Asクラスタイオンビ-ムによってクリ-ニングしたSi(100)面の同軸形直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)による評価

X線光電子分光法の高分子への応用

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