Journal of surface analysis

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: Journal of surface analysis
• タイトルよみ: Journal of surface analysis
• 巻次・部編番号: 13(1)-13(3) 20060400-20061200
• 著者・編者: 表面分析研究会 編
• 著者標目: 表面分析研究会 ヒョウメン ブンセキ ケンキュウカイ ( 00284187 )典拠
• 出版事項: 東京 : 表面分析研究会
• 出版年月日等: 2006
• 出版年（W3CDTF）: 2006
• 出版表示等に関する注記: 出版地の変更あり
• 刊行巻次・年月次: v. 1, no. 1 (Mar. 1995)-
• 大きさ: 30cm
• ISSN（掲載誌）: 1341-1756
• ISSN-L（掲載誌）: 1341-1756
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZM35
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 英文併載
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z15-B66
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000095170; http://id.ndl.go.jp/bib/000000095170
• 目録規則: 国立国会図書館逐次刊行物目録規則

目次

技術報告 SERDプロジェクト報告(2005)

オージェ電子分光法・X線光電子分光法におけるブラック・ボックス化にともなう注意点

特集 酸化物表面分析における最近の展開

Formulation for XPS Spectral Change of oxides by Ar Ion Bombardment: Application of the formulation to Ta2O5 System (特集 酸化物表面分析における最近の展開)

Osコーティングを用いた酸化物絶縁材料・複合材料の帯電抑制法の研究 (特集 酸化物表面分析における最近の展開)

Special Issue on Quantitative Surface Chemical Analysis in honor of Kazuhiro Yoshihara

Recent Advances to Establish XPS as an Accurate Metrology Tool (Special Issue on Quantitative Surface Chemical Analysis in honor of Kazuhiro Yoshihara)

The MRI-Model in Sputter Depth Profiling: Capabilities, Limitations and Recent Progress (Special Issue on Quantitative Surface Chemical Analysis in honor of Kazuhiro Yoshihara)

What nano-physical properties can be determined by analysis of elastic peak accompanied by its inelastic background tail in XPS and AES spectra? (Special Issue on Quantitative Surface Chemical Analysis in honor of Kazuhiro Yoshihara)

Spectroscopy of electrons excited from solids using high energy photons mid electrons (Special Issue on Quantitative Surface Chemical Analysis in honor of Kazuhiro Yoshihara)

絶対オージェスペクトルを用いた表面励起効果の解明

Characterization of Lubricative Coating after Exposure Test in Orbit

Effective Resolution of Phase-contrast Images in X-ray Microscopy

XPSによる帯電補正方法の現状--アンケート結果

オージェ電子分光による化学状態分析の現状