Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor. (Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 524)

Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor.

(Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 524)

国立国会図書館請求記号: M15-A1320
国立国会図書館書誌ID: 000003126293

資料種別: 図書

著者: Pollak, Fred H.ほか

出版者: SPIE--the International Society for Optical Engineering

出版年: c1985.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: vi, 169 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0892525592 (pbk.)
タイトル: Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technology II : January 21-22, 1985, Los Angeles, California / Fred H. Pollak, chairman/editor.
シリーズタイトル: Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 524
著者標目: Pollak, Fred H.
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers.
出版事項: Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版年月日等: c1985.
出版年（W3CDTF）: 1985
数量: vi, 169 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductors -- Testing -- Congresses.
Spectrum analysis -- Congresses.
LCC: TK7871.85
DDC: 621.3815/2
NDLC: M15
ND
書誌注記: Includes bibliographies and index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M15-A1320
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003126293
http://id.ndl.go.jp/bib/000003126293
LC control number: 85050424
https://lccn.loc.gov/85050424
整理区分コード: 211