Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging -- : Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging : Conference : Nov 2000, Singapore. (SPIE Proceedings ; 4229)

Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging -- : Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging : Conference : Nov 2000, Singapore.

(SPIE Proceedings ; 4229)

国立国会図書館請求記号: M17-01-2249
国立国会図書館書誌ID: 000003451038

資料種別: 図書

著者: SPIE.

出版者: SPIE

出版年: 2000.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: v.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.Index term: microlectronic yield ; advanced packaging ; SPIE.BL shelfmark: 6823.100 vol 4229 2000.

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0819439010 (pbk)
ISSN: 0277-786X
タイトル: Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging -- : Microelectronic yield, reliability, and advanced packaging : Conference : Nov 2000, Singapore.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 4229
著者標目: SPIE.
出版事項: SPIE
出版年月日等: 2000.
出版年（W3CDTF）: 2000
数量: v.
並列タイトル等: microlectronic yield ; advanced packaging ; SPIE
NDLC: M17
一般注記: Papers.
Index term: microlectronic yield ; advanced packaging ; SPIE.
BL shelfmark: 6823.100 vol 4229 2000.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-01-2249
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003451038
http://id.ndl.go.jp/bib/000003451038
UKMARC番号: G07168037
整理区分コード: 215