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規格・テクニカルリポート類

Evaporation rate and composition monitoring of electron beam PVD processes UCRL-JC-118759 DE95 015423 CONF-9504548

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Evaporation rate and composition monitoring of electron beam PVD processes

UCRL-JC-118759 DE95 015423 CONF-9504548

国立国会図書館請求記号
LS-DE95/015423
国立国会図書館書誌ID
000005536743
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Anklam, T. Mほか
出版者
-
出版年
1995
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
18 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Anklam, T. M
Berzins, L. V
Braun, D. G
Haynam, C
Meier, T
出版年月日等
1995
出版年(W3CDTF)
1995
数量
18 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : UCRL-JC-118759
テクニカルリポート番号 : DE95 015423
テクニカルリポート番号 : CONF-9504548
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE95/015423