Why in situ, real-time characterization of thin film growth processes

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Why in situ, real-time characterization of thin film growth processes
• 著者・編者: Auciello, O; Krauss, A. R
• 出版年月日等: 1995
• 出版年（W3CDTF）: 1995
• 数量: 5 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/CHM/PC-87054; テクニカルリポート番号 : DE95 015861
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE95/015861
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005538386; http://id.ndl.go.jp/bib/000005538386
• 整理区分コード: 291