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X-ray analysis papers; a volume of twenty-four selected reprints from Philips Laboratories, Briarcliff Manor, New York, U.S.A. [2d ed.]

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X-ray analysis papers; a volume of twenty-four selected reprints from Philips Laboratories, Briarcliff Manor, New York, U.S.A.

[2d ed.]

国立国会図書館請求記号
545.8-P261x
国立国会図書館書誌ID
000006295815
資料種別
図書
著者
Parrish, William, 1914-
出版者
Centrex Pub. Co.
出版年
c1965.
資料形態
ページ数・大きさ等
311 p. illus. 28 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Second edition of Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography.

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書誌情報

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資料種別
図書
[2d ed.]
出版年月日等
c1965.
出版年(W3CDTF)
1965
数量
311 p. illus. 28 cm.
本文の言語コード
eng