Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films / Chad R. Snyder, Frederick I. Mopsik. (NIST recommended practice guide) (Special publication ; 960-7)

Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films / Chad R. Snyder, Frederick I. Mopsik.

(NIST recommended practice guide) (Special publication ; 960-7)

国立国会図書館請求記号: AU-411-B8
国立国会図書館書誌ID: 000007559288

資料種別: 図書

著者: National Institute of Standards and Technology (U.S.)

出版者: U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology

出版年: [2003]

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: x, 32 p. : ill. ; 23 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: "November 2001."

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
タイトル: Capacitance cell measurement of the out-of-plane expansion of thin films / Chad R. Snyder, Frederick I. Mopsik.
シリーズタイトル: NIST recommended practice guide
Special publication ; 960-7
タイトル標目: NIST special publication ; 960-7.
著者標目: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
出版事項: [Gaithersburg, Md.] : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology
出版年月日等: [2003]
出版年（W3CDTF）: 2003
数量: x, 32 p. : ill. ; 23 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
NDLC: AU-411
一般注記: "November 2001."
書誌注記: Includes bibliographical references.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: AU-411-B8
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007559288
http://id.ndl.go.jp/bib/000007559288
目録規則: 英米目録規則
整理区分コード: 211