Proceedings of the 16th Asian test symposium : 8-11 October 2007, Beijing, China. : Oct 2007, Beijing, China.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769528902; 9780769528908 (ISBN-13)
• ISSN: 1081-7735
• タイトル: Proceedings of the 16th Asian test symposium : 8-11 October 2007, Beijing, China. : Oct 2007, Beijing, China.
• 著者標目: Asian Test Symposium (16th : 2007 : Beijing, China)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2007.
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 数量: xxiv, 528 p. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: 16th IEEE Asian test symposium : (ATS 2007) : Beijing, P.R. China : 09-11 October 2007
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Electronic digital computers -- Circuits -- Testing -- Congresses.; Electronic circuits -- Testing -- Congresses.; Fault-tolerant computing -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Abstracts and papers.; " (...) (ATS '07) , the sixteenth in a series of annual symposia (...) " -- foreword.; "Two half-day tutorials are offered by (...) " -- foreword.; IEEE cat no P2890 (t.p. verso) , PR2890 (cover & spine) .
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-09-1407
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000010075571; http://id.ndl.go.jp/bib/000010075571
• OCLC番号: 231846045; https://www.worldcat.org/oclc/231846045
• 整理区分コード: 215