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Determination of thin film thickness by activation analysis (AEET ; AEET-261)

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Determination of thin film thickness by activation analysis

(AEET ; AEET-261)

資料種別
図書
著者
S.K. Vermani, S.P. Murarka, R.P. Agarwala
出版者
Atomic Energy Establishment Trombay
出版年
1966.
資料形態
ページ数・大きさ等
5 p.
NDC
-
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資料種別
図書
著者・編者
S.K. Vermani, S.P. Murarka, R.P. Agarwala
シリーズタイトル
出版年月日等
1966.
出版年(W3CDTF)
1966
数量
5 p.
出版地(国名コード)
ii