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Proceedings : 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 October, 2006, Arlington, Virginia, USA

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Proceedings : 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 October, 2006, Arlington, Virginia, USA

資料種別
図書
著者
edited by Nohpill Park ... [et al.] ; sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC), the IEEE Computer Society Technical Committee on Fault-Tolerant Computing(TCFTC)
出版者
IEEE Computer Society
出版年
c2006
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
23 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

IEEE Computer Society Order Number P2706Includes bibliographical references and author index

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紙

資料種別
図書
ISBN
9780769527062
タイトル
Proceedings : 21st IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 4-6 October, 2006, Arlington, Virginia, USA
著者・編者
edited by Nohpill Park ... [et al.] ; sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (TTTC), the IEEE Computer Society Technical Committee on Fault-Tolerant Computing(TCFTC)
著者標目
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1185577X外部サイト
Park, Nohpill
IEEE Computer Society. Technical Committee on Fault-Tolerant Computing
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00923007外部サイト
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X外部サイト
出版事項
IEEE Computer Society
出版年月日等
c2006
出版年（W3CDTF）
2006
大きさ
23 cm
並列タイトル等
DPT2006
International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Defect and fault tolerance in VLSI systems