Scanned image microscopy

資料に関する注記

一般注記：: Based on a conference held at the Royal Society of London in Sept. of 1980, under the auspices of the Rank Prize FundsIncludes bibliographical referen...

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資料種別: 図書
ISBN: 0120651807
タイトル: Scanned image microscopy
著者・編者: edited by Eric A. Ash
著者標目: Ash, E. A. (Eric A.)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01139742
Rank Prize Funds
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01139800
出版事項: Academic Press
出版年月日等: 1980
出版年（W3CDTF）: 1980
大きさ: 24 cm
並列タイトル等: International symposium in opto-electronics(4th, 1980)
出版地（国名コード）: uk
本文の言語コード: en
件名標目: Scanning electron microscope -- Congresses
LCC: QH212.S3
対象利用者: 一般
一般注記: Based on a conference held at the Royal Society of London in Sept. of 1980, under the auspices of the Rank Prize Funds
Includes bibliographical references and index
関連情報: The Rank Prize Funds opto-electronics biennial symposia
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272550669952
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA00593711#entity
https://lccn.loc.gov/80041580
掲載誌: The Rank Prize Funds opto-electronics biennial symposia
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272550669952
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA00593711 : BA00593711
LC control number: 80041580
https://lccn.loc.gov/80041580