走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定

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資料種別: 図書
タイトル: 走査プローブ顕微鏡による表面ポテンシャル分布の高精度測定
タイトルよみ: ソウサプローブケンビキョウニヨルヒョウメンポテンシャルブンプノコウセイドソクテイ
著者・編者: 研究代表者長谷川幸雄
著者標目: 長谷川, 幸雄ハセガワ, ユキオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1357254X
浜田, 雅之ハマダ, マサユキ
出版事項: 長谷川幸雄
出版年月日等: 2008.6
出版年（W3CDTF）: 2008
大きさ: 30cm
並列タイトル等: 平成17年度〜平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書
出版地（国名コード）: ja
対象利用者: 一般
一般注記: 研究分担者:浜田雅之
課題番号:17360018
研究代表者の所属:東京大学物性研究所
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88056896#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88056896 : BA88056896