Practical analytical electron microscopy in materials science : Germany : us : pbk

Practical analytical electron microscopy in materials science : Germany

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資料種別: 図書
ISBN: 3527262245
0895733072
0961293403
タイトル: Practical analytical electron microscopy in materials science
巻次・部編番号: : Germany
: us
: pbk
著者・編者: David B. Williams
著者標目: Williams, David B. (David Bernard)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0078254X
出版事項: Verlag Chemie International
Electron Optics Pub. Co.
出版年月日等: c1984
出版年（W3CDTF）: 1984
大きさ: 29 cm
出版地（国名コード）: gw
本文の言語コード: en
件名標目: Materials -- Microscopy
Electron microscopy
LCC: TA417.23
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA03782481#entity
https://lccn.loc.gov/83083128
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA03782481 : BA03782481
LC control number: 83083128
https://lccn.loc.gov/83083128