2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008 Pages 1-534 Pages 535-1062

2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008 Pages 1-534

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資料種別: 図書
ISBN: 9781424424023
タイトル: 2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008
巻次・部編番号: Pages 1-534
Pages 535-1062
著者標目: Institute of Electrical and Electronics Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00739948
International Test Conference
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0261156X
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c2008
出版年（W3CDTF）: 2008
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: IEEE Catalog Number: CEP08ITC-PRT
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89307051#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89307051 : BA89307051