SAE residual stress measurement by x-ray diffraction 2003 ed

SAE residual stress measurement by x-ray diffraction

2003 ed

資料種別: 図書

著者: SAE International

出版者: SAE International

出版年: c2003

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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一般注記：: Includes bibliographical references

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780768010695
タイトル: SAE residual stress measurement by x-ray diffraction
版: 2003 ed
著者標目: SAE International
出版事項: SAE International
出版年月日等: c2003
出版年（W3CDTF）: 2003
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: Residual stress measurement by x-ray diffraction
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references
関連情報: SAE international
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795373457408
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA67224518#entity
掲載誌: SAE international
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795373457408
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA67224518 : BA67224518

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