Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon

資料種別: 図書

著者: editors, T. Abe ... [et al.]

出版者: Electrochemical Society

出版年: c1999

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 24 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: "Electronics Divisions."Papers presented during the 195th Meeting of the Electrochemical Society, May 2-7, 1999, in Seattle, WashIncludes bibliographi...

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 1566772230
タイトル: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon
著者・編者: editors, T. Abe ... [et al.]
著者標目: International Symposium on Defects in Silicon
Abe, T. (Takeo)
Electrochemical Society. Electronics Division
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0357072X
Electrochemical Society. Meeting
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03398898
出版事項: Electrochemical Society
出版年月日等: c1999
出版年（W3CDTF）: 1999
大きさ: 24 cm
並列タイトル等: Defects in silicon III
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Silicon -- Defects Congresses
Semiconductors -- Defects Congresses
LCC: QC611.8.S5
対象利用者: 一般
一般注記: "Electronics Divisions."
Papers presented during the 195th Meeting of the Electrochemical Society, May 2-7, 1999, in Seattle, Wash
Includes bibliographical references and indexes
関連情報: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269273401728
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA4370711X#entity
https://lccn.loc.gov/99061470
掲載誌: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269273401728
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA4370711X : BA4370711X
LC control number: 99061470
https://lccn.loc.gov/99061470