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Performing elemental microanalysis with high accuracy and high precision by scanning electron microscopy/silicon drift detector energy-dispersive X-ray spectrometry (SEM/SDD-EDS)

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Performing elemental microanalysis with high accuracy and high precision by scanning electron microscopy/silicon drift detector energy-dispersive X-ray spectrometry (SEM/SDD-EDS)

資料種別
記事
著者
Dale E. Newburyほか
出版者
Springer Science and Business Media LLC
出版年
2014-11-12
資料形態
デジタル
掲載誌名
Journal of Materials Science 50 2
掲載ページ
p.493-518
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資料詳細

要約等:

<jats:title>Abstract</jats:title> <jats:p>Electron-excited X-ray microanalysis performed in the scanning electron microscope with energy-dis...

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デジタル

資料種別
記事
出版年月日等
2014-11-12
出版年(W3CDTF)
2014-11-12
タイトル(掲載誌)
Journal of Materials Science
巻号年月日等(掲載誌)
50 2
掲載巻
50
掲載号
2
掲載ページ
493-518