Micro‐structural anisotropy of a‐plane GaN analyzed by high resolution X‐ray diffraction

• 資料種別: 記事
• タイトル: Micro‐structural anisotropy of a‐plane GaN analyzed by high resolution X‐ray diffraction
• 著者標目: Matthias Wieneke; Jürgen Bläsing; Armin Dadgar; Peter Veit; Sebastian Metzner; Frank Bertram; Jürgen Christen; Alois Krost
• 出版年月日等: 2009-05-26
• 出版年（W3CDTF）: 2009-05-26
• タイトル（掲載誌）: physica status solidi c
• 巻号年月日等（掲載誌）: 6 S2
• 掲載巻: 6
• 掲載号: S2
• 掲載ページ: S498-
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2009-05-26
• ISSN（掲載誌）: 18626351
• 出版事項（掲載誌）: Wiley
• 件名標目: Condensed Matter Physics
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.1002/pssc.200880964
• 作成日（W3CDTF）: 2009-02-13
• 著作権情報: http://onlinelibrary.wiley.com/termsAndConditions#vor
• 関連情報（URI）: https://api.wiley.com/onlinelibrary/tdm/v1/articles/10.1002%2Fpssc.200880964; https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1002/pssc.200880964
• 参照: Evaluation of a-type screw dislocations in<i>m</i>-GaN film by means of X-ray diffractometry; https://cir.nii.ac.jp/crid/1360284924866477312; Defects reduction in a-plane AlGaN epi-layers grown on r-plane sapphire substrates by metal organic chemical vapor deposition; https://cir.nii.ac.jp/crid/1360566399836844544
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research; https://cir.nii.ac.jp/
• 提供元機関・データベース: Crossref; https://www.crossref.org

• 要約等: <jats:title>Abstract</jats:title><jats:p>Nonpolar a‐plane GaN films were grown on r‐plane sapphire by metal‐organic vapour phase epitaxy. Conventional...