Characteristics of rare-earth element erbium implanted in silicon

• 資料種別: 記事
• タイトル: Characteristics of rare-earth element erbium implanted in silicon
• 著者標目: Y. S. Tang; K. C. Heasman; W. P. Gillin; B. J. Sealy
• 出版年月日等: 1989-07-31
• 出版年（W3CDTF）: 1989-07-31
• タイトル（掲載誌）: Applied Physics Letters
• 巻号年月日等（掲載誌）: 55 5
• 掲載巻: 55
• 掲載号: 5
• 掲載ページ: 432-433
• 掲載年月日（W3CDTF）: 1989-07-31
• ISSN（掲載誌）: 00036951
• 出版事項（掲載誌）: AIP Publishing
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.1063/1.101888; https://doi.org/10.1063/1.101888
• 作成日（W3CDTF）: 2002-07-26
• 関連情報（URI）: https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/55/5/432/18472259/432_1_online.pdf
• 参照: Relativistic Effect on Multiplet Terms of Rare Earth Ions.; https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001204180919424; Photoluminescence of Erbium Implanted in SiGe.; https://cir.nii.ac.jp/crid/1390001206246286336; Ab Initio Calculations of the Multiplet Terms of (TmP4)3+ Cluster; https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679155543936
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research; https://cir.nii.ac.jp/
• 提供元機関・データベース: Crossref; https://www.crossref.org

• 要約等: <jats:p>Rare-earth element erbium implanted into silicon was studied by photoluminescence and Rutherford backscattering analysis. Two sets of luminesc...