超LSI時代の故障解析技術

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資料種別: 記事
タイトル: 超LSI時代の故障解析技術
著者標目: 木村忠正
出版年月日等: 1990
出版年（W3CDTF）: 1990
タイトル（掲載誌）: 信頼性
巻号年月日等（掲載誌）: 11 4
掲載巻: 11
掲載号: 4
掲載ページ: 32-43
掲載年月日（W3CDTF）: 1990
出版事項（掲載誌）: Reliability Engineering Association of Japan
本文の言語コード: ja
対象利用者: 一般
DOI: 10.11348/reaj1979.11.4_32
https://doi.org/10.11348/reaj1979.11.4_32
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
https://cir.nii.ac.jp/
提供元機関・データベース: Japan Link Center
https://japanlinkcenter.org/top
CiNii Articles
NII論文ID: 130004012482