Correction of height-fluctuation-induced systematic errors in polymers by AFM-based nanomechanical measurements

• 資料種別: 記事
• タイトル: Correction of height-fluctuation-induced systematic errors in polymers by AFM-based nanomechanical measurements
• 著者標目: Wentao Liu; So Fujinami; https://orcid.org/0000-0001-5151-7008; Lu Mao; Hao Liu; https://orcid.org/0000-0002-7785-7075; Ken Nakajima; https://orcid.org/0000-0001-7495-0445
• 出版年月日等: 2021-01-01
• 出版年（W3CDTF）: 2021-01-01
• タイトル（掲載誌）: Polymer Testing
• 巻号年月日等（掲載誌）: 93
• 掲載巻: 93
• 掲載ページ: 106919-
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2021-01-01
• ISSN（掲載誌）: 01429418
• 出版事項（掲載誌）: Elsevier BV
• 件名標目: Systematic errors; Height-fluctuation; Atomic force microscopy; TP1080-1185; Polymers and polymer manufacture; Nanomechanical measurement
• 対象利用者: 一般
• DOI: 10.1016/j.polymertesting.2020.106919
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research; https://cir.nii.ac.jp/

• 要約等: AFM-based nanomechanical measurements are powerful tools for the characterization of polymer composites. However, a flat surface of the samples is usu...