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AlGaN/GaNヘテロ構造のゲートリーク電流抑制とMBE成長膜の極性制御
AlGaN/GaNヘテロ構造のゲートリーク電流抑制とMBE成長膜の極性制御
Paper
図書
澤田孝幸, 北海道工業大学 [著]
[澤田孝幸]
2005-2006
<Y151-H17560013>
National Diet Library
Author Heading
澤田, 孝幸
北海道工業大学
基礎からの半導体デバイス (実用理工学入門講座)
基礎からの半導体デバイス (実用理工学入門講座)
Paper
図書
和保孝夫, 澤田孝幸, 佐々木公洋, 北川章夫, 深山正幸 共著
日新出版
2008.4
<ND371-J16>
National Diet Library
Other Libraries in Japan
Author Heading
和保, 孝夫
澤田, 孝幸
佐々木, 公洋
GaN系半導体界面の制御と電界効果トランジスタの試作に関する研究
GaN系半導体界面の制御と電界効果トランジスタの試作に関する研究
Paper
図書
澤田, 孝幸
, 北海道工業大学
2000-2001
<Y151-H12650320>
National Diet Library
Author Heading
澤田, 孝幸
金属/GaNおよび絶縁膜/GaN界面の制御とMIS形電界効果トランジスタの試作
金属/GaNおよび絶縁膜/GaN界面の制御とMIS形電界効果トランジスタの試作
Paper
図書
澤田, 孝幸
, 北海道工業大学
1998-1999
<Y151-H10650316>
National Diet Library
Author Heading
澤田, 孝幸
強誘電体,化合物半導体光屈折結晶の光パルス応答と材料物性の関係
強誘電体,化合物半導体光屈折結晶の光パルス応答と材料物性の関係
Paper
図書
沢田, 孝幸
, 北海道大学
1991-1993
<Y151-H03650031>
National Diet Library
Author Heading
沢田, 孝幸
酸化ケイ素材ビスマス(BSO)光屈折結晶の電気的評価に対する研究
酸化ケイ素材ビスマス(BSO)光屈折結晶の電気的評価に対する研究
Paper
図書
沢田, 孝幸
, 電気通信大学
1988-1989
<Y151-S63550010>
National Diet Library
Author Heading
沢田, 孝幸
Interface properties of compound semiconductor MIS structures and their applications to MIS field-effect transistors
Interface properties of compound semiconductor MIS structures and their applications to MIS field-effect transistors
Paper
博士論文
沢田孝幸 [著]
<UT51-59-G27>
National Diet Library
Author Heading
沢田, 孝幸
強誘電体, 化合物半導体光屈折結晶の光パルス応答と材料物性の関係
強誘電体, 化合物半導体光屈折結晶の光パルス応答と材料物性の関係
Paper
図書
研究代表者 沢田孝幸
[北海道大学量子界面エレクトロニクス研究センター]
1993.3
Other Libraries in Japan
Author Heading
澤田, 孝幸
北海道工業大学研究紀要
北海道工業大学研究紀要
Paper
雑誌
雑誌タイトル
北海道工業大学 編
北海道工業大学
1970-2010
<Z14-644>
National Diet Library
Other Libraries in Japan
Volumes of this title
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Paper
雑誌
雑誌タイトル
電子情報通信学会
1987-2020
<Z16-940>
National Diet Library
Other Libraries in Japan
Volumes of this title
釧路工業高等専門学校紀要
釧路工業高等専門学校紀要
Paper
雑誌
雑誌タイトル
釧路工業高等専門学校 編
釧路工業高等専門学校
1967-2015
<Z22-181>
National Diet Library
Other Libraries in Japan
Volumes of this title
応用物理
応用物理
Paper
雑誌
雑誌タイトル
応用物理学会
1932-
<Z15-243>
National Diet Library
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Volumes of this title
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