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UNTERSUCHUNG KOMMERZIELLER HALBLEITER-DIODEN ZUR HOCHDOSISLEISTUNGS-MESSUNG (OEFZS ; OEFZS-4663)

UNTERSUCHUNG KOMMERZIELLER HALBLEITER-DIODEN ZUR HOCHDOSISLEISTUNGS-MESSUNG (OEFZS ; OEFZS-4663)
紙図書
BREITENHUBER, L./DUFTSCHMID, K.1992.
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  • 著者標目BREITENHUBER, L. DUFTSCHMID, K.

Untersuchung kommerzieller Halbleiter-Dioden zur Hochdosisleistungs-Messung (OEFZS ; OEFZS-4663)

Untersuchung kommerzieller Halbleiter-Dioden zur Hochdosisleistungs-Messung (OEFZS ; OEFZS-4663)
紙図書
Breitenhuber, L. [et al.]Oesterreichisches Forschungszentrum Seibersdorf GmbH1992.12.
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  • 著者標目Breitenhuber, L. Duftschmid, K. Obenaus, B. St...

Beschreibung der Extrapolationskammer fuer die Absolutmessung der Energiedosisleistung von Betastrahlung und weicher Roentgenstrahlung (OEFZS ; OEFZS-4257; ST-110/83)

Beschreibung der Extrapolationskammer fuer die Absolutmessung der Energiedosisleistung von Betastrahlung und weicher Roentgenstrahlung (OEFZS ; OEFZS-4257; ST-110/83)
紙図書
Bernau, W., Breitenhuber, L., Sorantin, H.Oesterreichisches Forschungszentrum Seibersdorf G.m.b.H1983.12.
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  • 著者標目Bernau, W. Breitenhuber, L. Sorantin, H.

Extrapolation chamber for absolute energy dose rate measurement of beta and soft x radiation (ST ; ST-110/83)

Extrapolation chamber for absolute energy dose rate measurement of beta and soft x radiation (ST ; ST-110/83)
紙図書
Oesterreichisches Forschungszentrum Seibersdorf G.m.b.H(Oesterreichisches Forschungszentrum Seibersdorf G.m.b.H)1983.
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  • 著者標目Bernau, W. Breitenhuber, L. Sorantin, H.

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