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検索結果 13 件

ナノテク産業支援分析電子顕微鏡分野の調査研究成果報告書

ナノテク産業支援分析電子顕微鏡分野の調査研究成果報告書
紙図書
日本規格協会2006.3<ND448-H12>
国立国会図書館
  • 件名電子顕微鏡 顕微鏡分析

Fluorescence imaging spectroscopy and microscopy / edited by Xue Feng Wang and Brian Herman. (Chemical analysis ; v. 137)

Fluorescence imaging spectroscopy and microscopy / edited by Xue Feng Wang and Brian Herman. (Chemical analysis ; v. 137)
紙図書
John Wileyc1996.<PA128-A27>
国立国会図書館全国の図書館
  • 件名蛍光分析. 顕微鏡分析. 画像処理. Fluorescence spectrosc...

Surface preparation and microscopy of materials / Brian Bousfield.

Surface preparation and microscopy of materials / Brian Bousfield.
紙図書
Wileyc1992.<PD31-A30>
国立国会図書館
  • 件名金属組織学. 金属表面. 顕微鏡分析. Metallographic specimens. Me...

Ėlektronnai͡a mikroskopii͡a i prochnost' materialov : sbornik nauchnykh trudov / [redakt͡sionnai͡a kollegii͡a, S.A. Firstov (otvetstvennyĭ redaktor) ... et al.].

Ėlektronnai͡a mikroskopii͡a i prochnost' materialov : sbornik nauchnykh trudov / [redakt͡sionnai͡a kollegii͡a, S.A. Firstov (otvetstvennyĭ redaktor) ... et al.].
紙図書
In-t problem materialovedenii͡a im. I.N. Frant͡sevicha AN USSR1991.<M231-A12>
国立国会図書館
  • 件名歪・歪力[ワイリョク] 顕微鏡分析. Deformations (Mechanics) Ele...

SEM microcharacterization of semiconductors / edited by D.B. Holt, D.C. Joy. (Techniques of physics ; 12)

SEM microcharacterization of semiconductors / edited by D.B. Holt, D.C. Joy. (Techniques of physics ; 12)
紙図書
Academic Pressc1989.<ND371-A21>
国立国会図書館
  • 件名半導体. 電子顕微鏡. 顕微鏡分析.

Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart.

Structural and chemical analysis of materials : X-ray, electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy / J.P. Eberhart ; translated by J.P. Eberhart.
紙図書
Wileyc1991.<M217-A21>
国立国会図書館全国の図書館
  • 件名工業材料. 顕微鏡分析. 非破壊検査. Materials -- Microsco...

Ėlektronnai͡a mikroskopii͡a i prochnost' materialov : sbornik nauchnykh trudov.

Ėlektronnai͡a mikroskopii͡a i prochnost' materialov : sbornik nauchnykh trudov.
紙図書
IPM1989.<M231-A13>
国立国会図書館
  • 件名歪・歪力[ワイリョク] 顕微鏡分析. Deformations (Mechanics) Ele...

Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution / Tien T. Tsong.

Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution / Tien T. Tsong.
紙図書
Cambridge University Press1990.<MC141-A108>
国立国会図書館
  • 件名固体. 表面 (物理学) 電子顕微鏡. 顕微鏡分析. Atom-probe field ion microsc...

Microscopic methods in metals / edited by U. Gonser. (Topics in current physics ; v. 40)

Microscopic methods in metals / edited by U. Gonser. (Topics in current physics ; v. 40)
紙図書
Springer-Verlagc1986.<PD31-A18>
国立国会図書館
  • 件名金属組織学. 顕微鏡分析. Metallography -- Methodology...

Electron microscopy of proteins / edited by James R. Harris.

Electron microscopy of proteins / edited by James R. Harris.
紙図書
Academic Press1981-<RA78-A51>
国立国会図書館全国の図書館
  • 件名蛋白質. 電子顕微鏡. 顕微鏡分析.

Field-ion microscopy / by R. Wagner. (Crystals ; 6)

Field-ion microscopy / by R. Wagner. (Crystals ; 6)
紙図書
Springer-Verlag1982.<MC141-A71>
国立国会図書館
  • 件名表面 (物理学) 顕微鏡分析. Materials -- Microscopy. Fie...

Microscopy of semiconducting materials, 1983 : proceedings of the Institute of Physics Conference held in St Catherine's College, Oxford, 21-23 March 1983 / edited by A.G. Cullis, S.M. Davidson and G.R. Booker. (Conference series)

Microscopy of semiconducting materials, 1983 : proceedings of the Institute of Physics Conference held in St Catherine's College, Oxford, 21-23 March 1983 / edited by A.G. Cullis, S.M. Davidson and G.R. Booker. (Conference series)
紙図書
Institute of Physicsc1983.<MC151-A3>
国立国会図書館
  • 件名半導体. 電子顕微鏡. 顕微鏡分析. Semiconductors -- Congresses...

電子顕微鏡分析 (分析ライブラリー ; 15)

電子顕微鏡分析 (分析ライブラリー ; 15)
紙デジタル図書障害者向け資料あり
水渡英二, 滝山一善 著東京化学同人1971<PA124-2>
インターネットで読める国立国会図書館全国の図書館
  • 件名顕微鏡分析 電子顕微鏡

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