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Sixth international symposium on instrumentation and control technology : signal analysis, measurement theory, photo-electronic technology, and artificial intelligence : 13-15 October 2006 : Beijing, China. : ISICT 2006 : 6th intl. symp. on instrumentation and control technology: signal analysis, measurement theory, photo-electronic technology, and artificial intelligence : Oct 2006, Beijing, China. (SPIE Proceedings ; 6357)
Sixth international symposium on instrumentation and control technology : signal analysis, measurement theory, photo-electronic technology, and artificial intelligence : 13-15 October 2006 : Beijing, China. : ISICT 2006 : 6th intl. symp. on instrumentation and control technology: signal analysis, measurement theory, photo-electronic technology, and artificial intelligence : Oct 2006, Beijing, China. (SPIE Proceedings ; 6357)
紙
図書
SPIE
c2006.
<M17-07-341>
国立国会図書館
タイトル標目
Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 6357.
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