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Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Hold Registers

Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Hold Registers
Digital文書・図像類
Inoue, Tomoo, Sano, Chiiho, Mihara, Takahiro, Fujiwara, HideoNara Institute of Science and Technology1999-04Information Science Technical ReportTR99007
Available onlineOther Libraries in Japan
  • Author HeadingInoue, Tomoo Sano, Chiiho Mihara, Takahiro Fujiwara, Hi...

ホールド機能を考慮した順序回路のテスト容易化設計法

ホールド機能を考慮した順序回路のテスト容易化設計法
Digital文書・図像類
佐野, ちいほ, 井上, 智生, DAS, Debesh K, 藤原, 秀雄, SANO, Chiiho, INOUE, Tomoo, FUJIWARA, Hideo情報処理学会1999-02-04情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告99 12p.43-50
Other Libraries in Japan
  • Author Heading佐野, ちいほ 井上, 智生 DAS, Debesh K 藤原, 秀雄 SANO, Chiiho INOUE, Tomoo FUJIWARA, Hideo

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