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スピンプローブ法と分子動力学法を併用した有機薄膜中の分子運動に関する研究

スピンプローブ法と分子動力学法を併用した有機薄膜中の分子運動に関する研究
Paper図書
菅, 耕作, 東京工業大学1996-1998<Y151-H08650971>
National Diet Library
  • Subject HeadingLangmuir Blodgett膜 相分離 電子スピン共鳴 スピンプローブ法 ドキシルステアリン酸 分子動力学法 スペクトルシミユレーシヨン

有機分子薄膜における角度分解紫外光電子スペクトルの実用解析法の開拓

有機分子薄膜における角度分解紫外光電子スペクトルの実用解析法の開拓
Paper図書
長谷川, 真史, 岡崎国立共同研究機構1995-1995<Y151-H07640782>
National Diet Library
  • Subject Heading角度分解紫外光電子スペクトル 有機分子薄膜 光電子散乱 スペクトルシミユレーシヨン 脱出深さ

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用
Paper図書
横山, 新, 広島大学1994-1996<Y151-H06555096>
National Diet Library
  • Subject Heading中速イオン散乱 イオン注入装置 飛行時間測定 表面損傷 不純物分布 半導体検出器 プラズマ損傷 スペクトルシミユレーシヨン

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用
Digital文書・図像類
横山, 新, 廣瀬, 全孝, 宮崎, 誠一, 桜田, 勇蔵
Other Libraries in Japan
  • Subject Heading...定 不純物分布 半導体検出器 スペクトルシミュレーション プラズマ損傷 semiconductor detector...

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用

飛行時間測定法を用いた中速イオン散乱法の開発と半導体プロセス評価への応用
Digital文書・図像類
横山, 新, 廣瀬, 全孝, 宮崎, 誠一, 桜田, 勇蔵
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  • Subject Heading...定 不純物分布 半導体検出器 スペクトルシミュレーション プラズマ損傷 semiconductor detector...

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