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飛行時間型スタテイツクSIMSによる表面分子イオンの定量的検出に関する研究

飛行時間型スタテイツクSIMSによる表面分子イオンの定量的検出に関する研究
Paper図書
工藤, 正博, 成蹊大学1996-1998<Y151-H08650965>
National Diet Library
  • Subject Heading二次イオン質量分析法 (SIMS) 飛行時間型 (TOF) SIMS 表面化学構造 表面定量分析 スタテイツクSIMS

エキシマレーザーを用いた多光子励起イオン化法による二次イオン生成機構の解明

エキシマレーザーを用いた多光子励起イオン化法による二次イオン生成機構の解明
Paper図書
志水, 隆一, 大阪大学1989-1990<Y151-H01460084>
National Diet Library
  • Subject Heading表面定量分析 多光子イオン化 二次イオン質量分析 スパツタリング イオン...

電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み

電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
Digital文書・図像類
田沼 繁夫
Available onlineOther Libraries in Japan
  • Subject Heading表面定量分析 国際標準化 ISO 標準化の歴史 標準化の意味

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