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PADC飛跡検出器を用いた後方散乱粒子による高強度イオンビーム特性簡易診断法 (特集 固体飛跡検出器研究会(神戸大学2011))

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PADC飛跡検出器を用いた後方散乱粒子による高強度イオンビーム特性簡易診断法

(特集 固体飛跡検出器研究会(神戸大学2011))

国立国会図書館請求記号
Z15-432
国立国会図書館書誌ID
023192337
資料種別
記事
著者
金崎 真聡ほか
出版者
[東京] : 応用物理学会放射線分科会
出版年
2011-10
資料形態
掲載誌名
放射線 = Ionizing radiation 37(3) 2011.10
掲載ページ
p.127-131
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
金崎 真聡
山内 知也
福田 祐仁 他
並列タイトル等
A new simple diagnosis method for intense ion beam utilizing back scattered particles with PADC track detectors
タイトル(掲載誌)
放射線 = Ionizing radiation
巻号年月日等(掲載誌)
37(3) 2011.10
掲載巻
37
掲載号
3