SQUID共振を利用したサブミクロンAl接合容量の測定

• 資料種別: 記事
• タイトル: SQUID共振を利用したサブミクロンAl接合容量の測定
• 著者・編者: 菊池 健人; 守屋 雅隆; 島田 宏 他
• シリーズタイトル: 超伝導エレクトロニクス
• 著者標目: 菊池 健人; 守屋 雅隆; 島田 宏
• 並列タイトル等: Capacitance measurements of sub-micron Al junctions using AQUID resonance
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 111(230):2011.10.12
• 掲載巻: 111
• 掲載号: 230
• 掲載ページ: 7-12
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2011-10-12
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 超伝導体; ジョセフソン効果; SQUID; トンネル接合; インダクタンス; 接合容量; Superconductor; Josephson effects; tunnel junction; inductance; capacitance
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: SCE2011-13
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023340697; http://id.ndl.go.jp/bib/023340697
• 整理区分コード: 632