直流誘導性負荷電流遮断動作中の接点表面形状変化の光切断法による計測 (機構デバイス)

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直流誘導性負荷電流遮断動作中の接点表面形状変化の光切断法による計測

(機構デバイス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
023343115
資料種別
記事
著者
高橋 佳佑ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-10-21
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(254):2011.10.21
掲載ページ
p.7-12
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
高橋 佳佑
長谷川 誠
シリーズタイトル
並列タイトル等
An experimental study on evaluation of changes in contact surface profiles with an optical cross-section method during breaking operations of a DC inductive load circuit
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
111(254):2011.10.21
掲載巻
111
掲載号
254