スペックル統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス度評価 (光ファイバ応用技術)

記事を表すアイコン

スペックル統計解析を用いた狭線幅レーザのコヒーレンス度評価

(光ファイバ応用技術)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
023346012
資料種別
記事
著者
井上 雅晶ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-11
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(298):2011.11.17・18
掲載ページ
p.1-4
すべて見る

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
井上 雅晶
古敷谷 優介
ファン シンユウ 他
シリーズタイトル
並列タイトル等
Coherence characterization of narrow-linewidth beam by speckle statistical analysis
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
111(298):2011.11.17・18
掲載巻
111
掲載号
298