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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号111(417)-111(424):2012.1.26-2012.1.28
記事磁化材料深部欠陥探査...

磁化材料深部欠陥探査を目的とした高温超伝導SQUIDセンサを用いた非破壊検査装置の開発 (超伝導エレクトロニクス)

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磁化材料深部欠陥探査を目的とした高温超伝導SQUIDセンサを用いた非破壊検査装置の開発

(超伝導エレクトロニクス)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
023429613
資料種別
記事
著者
河野 丈治ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2012-01-26
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(418):2012.1.26
掲載ページ
p.1-6
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紙

資料種別
記事
タイトル
磁化材料深部欠陥探査を目的とした高温超伝導SQUIDセンサを用いた非破壊検査装置の開発
著者・編者
河野 丈治
塚本 晃
安達 成司 他
シリーズタイトル
超伝導エレクトロニクス
著者標目
河野 丈治
塚本 晃
安達 成司
並列タイトル等
Development of non-destructive evaluation system using an HTS-SQUID gradiometer for magnetized materials
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
111(418):2012.1.26
掲載巻
111
掲載号
418