Interfacial Microstructure of a Double-layer Cu Film Consisting of an Under-layer Deposited on SiO₂ Substrate in Ar/10vol%O₂ and an Upper-layer Deposited in Pure Ar

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Interfacial Microstructure of a Double-layer Cu Film Consisting of an Under-layer Deposited on SiO₂ Substrate in Ar/10vol%O₂ and an Upper-layer Deposited in Pure Ar

国立国会図書館請求記号
Z17-134
国立国会図書館書誌ID
023479805
資料種別
記事
著者
森 曉ほか
出版者
大阪 : 日本接着学会
出版年
2012
資料形態
掲載誌名
日本接着学会誌 = Journal of the Adhesion Society of Japan : adhesion 48(1):2012
掲載ページ
p.10-16
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
森 曉
河合 晃
著者標目
並列タイトル等
Ar-10vol%O₂中で成膜した下地層と純Ar中で成膜した上層よりなる二層銅膜とSiO₂基板界面の微細構造 Ar-10vol%O ₂ ナカ デ セイマク シタ シタジソウ ト ジュンAr チュウ デ セイマク シタ ジョウソウ ヨリ ナル ニソウ ドウマク ト SiO ₂ キバン カイメン ノ ビサイ コウゾウ
タイトル(掲載誌)
日本接着学会誌 = Journal of the Adhesion Society of Japan : adhesion
巻号年月日等(掲載誌)
48(1):2012
掲載巻
48
掲載号
1
掲載ページ
10-16