KFM observation of individual dopant potentials and electron charging (電子デバイス)

KFM observation of individual dopant potentials and electron charging

(電子デバイス)

国立国会図書館請求記号: Z16-940
国立国会図書館書誌ID: 023493965

資料種別: 記事

著者: ローランドノヴァックほか

出版者: 東京 : 電子情報通信学会

出版年: 2012-02

資料形態: 紙

掲載誌名: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(425):2012.2.7・8

掲載ページ: p.13-18

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紙

資料種別: 記事
タイトル: KFM observation of individual dopant potentials and electron charging
著者・編者: ローランドノヴァック
ミフタフルアンワル
ダニエルモラル他
シリーズタイトル: 電子デバイス
著者標目: ローランドノヴァック
ミフタフルアンワル
ダニエルモラル
並列タイトル等: 個々のドーパントポテンシャルと電子帯電のKFM観測ココノドーパントポテンシャルトデンシタイデンノ KFM カンソク
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 111(425):2012.2.7・8
掲載巻: 111
掲載号: 425
掲載ページ: 13-18
掲載年月日（W3CDTF）: 2012-02
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: ケルビンプローブフォース顕微鏡
SOI FET
単電子帯電
Kelvin Probe Force Microscope
silicon-on-insulator field-effect transistor
single-electron charging
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: ED2011-144
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 023493965
http://id.ndl.go.jp/bib/023493965
整理区分コード: 632