飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用(小特集第52回真空に関する連合講演会プロシーディングス(2))

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資料種別: 記事
タイトル: 飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)データ解析へのケモメトリクスの応用
著者・編者: 青柳里果
シリーズタイトル: 小特集第52回真空に関する連合講演会プロシーディングス(2)
著者標目: 青柳里果
並列タイトル等: Application of Chemometrics into Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) Data Analysis
タイトル（掲載誌）: Journal of the Vacuum Society of Japan = 真空
巻号年月日等（掲載誌）: 55(4):2012.4
掲載巻: 55
掲載号: 4
掲載ページ: 139-143
掲載年月日（W3CDTF）: 2012-04
ISSN（掲載誌）: 1882-2398
ISSN-L（掲載誌）: 1882-2398
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本真空協会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZN15
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-474
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 023739144
http://id.ndl.go.jp/bib/023739144
整理区分コード: 632