高分子階層構造の静的・動的解析のための広角小角X線散乱/振動スペクトル同時測定システムの開発と展開

• 資料種別: 記事
• タイトル: 高分子階層構造の静的・動的解析のための広角小角X線散乱/振動スペクトル同時測定システムの開発と展開
• 著者・編者: 田代 孝二; 山元 博子; 吉岡 太陽 他
• シリーズタイトル: 特集号 新しい高分子・材料キャラクタリゼーション(1)
• 著者標目: 田代 孝二; 山元 博子; 吉岡 太陽
• 並列タイトル等: New Developments in the Simultaneous Measurement System of Wide-Angle and Small-Angle X-ray Scatterings and Vibrational Spectra for the Static and Dynamic Analyses of the Hierarchical Structures of Polymer Solids
• タイトル（掲載誌）: 高分子論文集 = Japanese journal of polymer science and technology
• 巻号年月日等（掲載誌）: 69(5):2012
• 掲載巻: 69
• 掲載号: 5
• 掲載ページ: 213-227
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2012
• ISSN（掲載誌）: 0386-2186
• ISSN-L（掲載誌）: 0386-2186
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 高分子学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: Wide-Angle X-ray Diffraction; Small-Angle X-ray Scattering; Raman Spectra; Transmission Infrared Spectra; Simultaneous Measurement System; Polymer Hierarchical Structure; Crystalline Phase Transitions; Crystallization
• NDLC: ZP16
• 対象利用者: 一般
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z17-92
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023809354; http://id.ndl.go.jp/bib/023809354
• 整理区分コード: 632