雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
巻号112(180):2012.8.23･24
記事二重格子ゲートHEM...

二重格子ゲートHEMT内二次元電子ガスにおけるプラズマ不安定性 (信頼性)

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二重格子ゲートHEMT内二次元電子ガスにおけるプラズマ不安定性

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
023934798
資料種別
記事
著者
佐藤 昭ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2012-08
資料形態
紙
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(180):2012.8.23・24
掲載ページ
p.1-4
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紙

資料種別
記事
タイトル
二重格子ゲートHEMT内二次元電子ガスにおけるプラズマ不安定性
著者・編者
佐藤 昭
志田 広海
Viacheslav V. Popov 他
シリーズタイトル
信頼性
著者標目
佐藤 昭
志田 広海
Viacheslav V. Popov
並列タイトル等
Plasma Instability in Two-Dimensional Electron Gas in Double-Grating-Gate HEMT
タイトル（掲載誌）
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）
112(180):2012.8.23・24
掲載巻
112
掲載号
180