電気・熱連成解析技術を用いたパワー半導体素子温度のリアルタイム評価システム

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電気・熱連成解析技術を用いたパワー半導体素子温度のリアルタイム評価システム

国立国会図書館請求記号
Z16-1608
国立国会図書館書誌ID
023974415
資料種別
記事
著者
堀口 剛司ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2012-09
資料形態
掲載誌名
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications 132(9):2012.9
掲載ページ
p.891-898
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
堀口 剛司
原川 雅哉
今中 晶 他
並列タイトル等
A Real-time Estimation System of Semiconductor Temperature Using Electro-thermal Simulation
タイトル(掲載誌)
電気学会論文誌. D, 産業応用部門誌 = IEEJ transactions on industry applications
巻号年月日等(掲載誌)
132(9):2012.9
掲載巻
132
掲載号
9
掲載ページ
891-898