EFI-SHG法によるフレキシブル有機トランジスタの特性評価 : 曲げ変形の効果

• 資料種別: 記事
• タイトル: EFI-SHG法によるフレキシブル有機トランジスタの特性評価 : 曲げ変形の効果
• 著者・編者: 阿部 洋平; 田口 大; 間中 孝彰 他
• シリーズタイトル: 有機エレクトロニクス
• 著者標目: 阿部 洋平; 田口 大; 間中 孝彰
• 並列タイトル等: Analysis of flexible OFET characteristics by using EFI-SHG : the effect of bending
• タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 112(295):2012.11.16
• 掲載巻: 112
• 掲載号: 295
• 掲載ページ: 13-18
• 掲載年月日（W3CDTF）: 2012-11-16
• ISSN（掲載誌）: 0913-5685
• ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
• 出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: フレキシブルトランジスタ; マックスウェル・ワグナー効果; 電界誘起光第2次高調波発生(EFI-SHG)法; flexible field-effect transistor; Maxwell-Wagner effect; EFISHG; carrier mechanism
• NDLC: ZN33
• 対象利用者: 一般
• レポート番号（雑誌記事）: OME2012-57
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Z16-940
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024149341; http://id.ndl.go.jp/bib/024149341
• 整理区分コード: 632