単一分子電気特性評価のためのナノギャップ電極作製

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資料種別: 記事
タイトル: 単一分子電気特性評価のためのナノギャップ電極作製
著者・編者: 永瀬隆
著者標目: 永瀬隆
並列タイトル等: Fabrication of Nanogap Electrodes for Electrical Characterization of Single Molecules
タイトル（掲載誌）: 日本画像学会誌 = Journal of the Imaging Society of Japan
巻号年月日等（掲載誌）: 52(1)=201:2013
掲載巻: 52
掲載号: 1
掲載通号: 201
掲載ページ: 19-25
掲載年月日（W3CDTF）: 2013
ISSN（掲載誌）: 1344-4425
ISSN-L（掲載誌）: 1344-4425
出版事項（掲載誌）: 東京 : 日本画像学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: Nanogap electrodes
Molecular devices
Nanoscale devices
Single-molecule measurements
Focused ion beams
ナノギャップ電極
分子デバイス
ナノスケールデバイス
単一分子計測
集束イオンビーム
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-554
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024283343
http://id.ndl.go.jp/bib/024283343
整理区分コード: 632