表面・薄膜物理学原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法

表面・薄膜物理学原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法

国立国会図書館請求記号: Z17-289
国立国会図書館書誌ID: 024306052

資料種別: 記事

著者: 井野正三

出版者: 東京 : アグネ技術センター

出版年: 2013-03

資料形態: 紙

掲載誌名: 金属 83(3)=1118:2013.3

掲載ページ: p.240-250

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資料種別: 記事
タイトル: 表面・薄膜物理学原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法
著者・編者: 井野正三
著者標目: 井野正三
タイトル（掲載誌）: 金属
巻号年月日等（掲載誌）: 83(3)=1118:2013.3
掲載巻: 83
掲載号: 3
掲載通号: 1118
掲載ページ: 240-250
掲載年月日（W3CDTF）: 2013-03
ISSN（掲載誌）: 0368-6337
ISSN-L（掲載誌）: 0368-6337
出版事項（掲載誌）: 東京 : アグネ技術センター
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
NDLC: ZP41
対象利用者: 一般
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z17-289
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024306052
http://id.ndl.go.jp/bib/024306052
整理区分コード: 632

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