雑誌金属
表面・薄膜物理学 原...

表面・薄膜物理学 原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法

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表面・薄膜物理学 原子テクノロジーの源流(第13章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(2)新しい表面元素深さ分布測定法

国立国会図書館請求記号
Z17-289
国立国会図書館書誌ID
024306052
資料種別
記事
著者
井野 正三
出版者
東京 : アグネ技術センター
出版年
2013-03
資料形態
掲載誌名
金属 83(3)=1118:2013.3
掲載ページ
p.240-250
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資料種別
記事
著者・編者
井野 正三
著者標目
タイトル(掲載誌)
金属
巻号年月日等(掲載誌)
83(3)=1118:2013.3
掲載巻
83
掲載号
3
掲載通号
1118
掲載ページ
240-250